面向设计加固的航天集成电路辐射效应评估方法研究与实践

• Published in: 核技术 Vol. 46; no. 8; pp. 81 - 88
• Main Authors: 郑宏超, 王亮, 李哲, 郭刚, 赵元富
• Format: Journal Article
• Language: Chinese
• Published: 北京微电子技术研究所 北京 100076 01-08-2023; 中国航天科技集团有限公司抗辐射集成电路技术实验室 北京 100076%中国原子能科学研究院核物理所 北京 102413
• Subjects: 航天集成电路; Radiation test; 抗辐射设计加固; 辐射试验; Aerospace integrated circuit; Radiation hardened by design; 单粒子效应; Single-event effect
• ISSN: 0253-3219
• DOI: 10.11889/j.0253-3219.2023.hjs.46.080007

TL99; 航天集成电路是空间电子系统的核心部件,抗辐射加固技术是保障航天集成电路在空间环境可靠工作的核心技术.随着电路特征尺寸缩小至纳米尺度,单粒子效应逐渐成为制约航天集成电路抗辐射能力的最主要因素.北京微电子技术研究所团队以设计加固方式作为航天集成电路抗辐射研制技术路线,基于在重离子加速器上获取的大量单粒子试验数据,提出新工艺新器件的单粒子效应试验评估新方法,开展测试分析技术和辐射效应规律研究,为加固技术研究提供准确基础信息,检验设计加固技术有效性,揭示单粒子辐射损伤机制,为优化加固提供指导,最终形成高可靠、长寿命航天集成电路产品提供了关键支撑.