Search Results - "Quiroz Gaitán, Heiddy Paola"
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Effects of Co Addition on the Microstructure and Morphological Properties of TIO2: Multicomponent Oxide of Transition Metals
Published in Revista EIA (01-12-2020)“…This work presents the process of fabrication and characterization of cobalt-doped titanium dioxide thin films on soda-lime glass substrates useful in…”
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Propiedades físicas de nanoestructuras de GaSb para aplicaciones en espintrónica
Published in Revista EIA (01-06-2019)“…En este trabajo se fabricaron películas delgadas nanoestructuradas de GaSb por el método de pulverización catódica asistidas por campo magnético sobre…”
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MEDIDAS DE TRANSMITANCIA ESPECTRAL SIN LA PRESENCIA DE FRANJAS DE INTERFERENCIA: UN MODELO PARA LA OBTENCIÓN DE LAS CONSTANTES ÓPTICAS EN PELÍCULAS DELGADAS SEMICONDUCTORAS/ SPECTRAL TRANSMITTANCE MEASURE MENTS WITHOUT THE PRESENCE OF INTERFERENCE FRINGES : A MODEL FOR OBTAINING OPTICAL CONSTANTS OF THIN SEMICONDUCTOR FILMS
Published in Revista EIA (01-05-2014)“…This article presents a model for obtaining the optical constants of thin films semiconductors. It is possible when there are not interference fringes in the…”
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IDENTIFICACIÓN DE UNA NUEVA FASE EN LA ESTRUCTURA CRISTALINA DEL COMPUESTO CUATERNARIO CU^sub 2^ZNSNSE^sub 4^ DURANTE LA ETAPA INCORPORACIÓN DEL ZNSE/IDENTIFICATION OF A NEW PHASE IN THE CRYSTAL STRUCTURE OF COMPOSITE QUATERNARY CU^sub 2^ZNSNSE^sub 4^ STAGE DURING INCORPORATION OF ZNSE
Published in Revista EIA (01-05-2014)“…This article presents a study of the structural properties of thin films of the compound Cu^sub 2^ZnSnSe^sub 4^ varying both mass and the substrate temperature…”
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Identificación de una Nueva Fase en la Estructura Cristalina del Compuesto Cuaternario Cu2ZnSnSe4 Durante la Etapa Incorporación del ZnSe
Published in Revista EIA (2014)“…This work presents a study of the structural properties of thin films of the compound Cu2ZnSnSe4 varying both mass (MX) and the substrate temperature which was…”
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Medidas de Transmitancia Espectral sin la Presencia de Franjas de Interferencia: Un Modelo para la Obtención de las Constantes Ópticas en Películas Delgadas Semiconductoras
Published in Revista EIA (2014)“…This paper presents a model for obtaining the optical constants of thin films semiconductors. It is possible when there are not interference fringes in the…”
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MEDIDAS DE TRANSMITANCIA ESPECTRAL SIN LA PRESENCIA DE FRANJAS DE INTERFERENCIA: UN MODELO PARA LA OBTENCIoN DE LAS CONSTANTES oPTICAS EN PELICULAS DELGADAS SEMICONDUCTORAS/ SPECTRAL TRANSMITTANCE MEASUREMENTS WITHOUT THE PRESENCE OF INTERFERENCE FRINGES : A MODEL FOR OBTAINING OPTICAL CONSTANTS OF THIN SEMICONDUCTOR FILMS
Published in Revista EIA (01-05-2014)“…This article presents a model for obtaining the optical constants of thin films semiconductors. It is possible when there are not interference fringes in the…”
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IDENTIFICACIoN DE UNA NUEVA FASE EN LA ESTRUCTURA CRISTALINA DEL COMPUESTO CUATERNARIO CU sub( 2)ZNSNSE sub( 4) DURANTE LA ETAPA INCORPORACIoN DEL ZNSE/IDENTIFICATION OF A NEW PHASE IN THE CRYSTAL STRUCTURE OF COMPOSITE QUATERNARY CU sub( 2)ZNSNSE sub( 4) STAGE DURING INCORPORATION OF ZNSE
Published in Revista EIA (01-05-2014)“…This article presents a study of the structural properties of thin films of the compound Cu sub( 2)ZnSnSe sub( 4) varying both mass and the substrate…”
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MEDIDAS DE TRANSMITANCIA ESPECTRAL SIN LA PRESENCIA DE FRANJAS DE INTERFERENCIA: UN MODELO PARA LA OBTENCIÓN DE LAS CONSTANTES ÓPTICAS EN PELÍCULAS DELGADAS SEMICONDUCTORAS
Published in Revista EIA“…En este trabajo presentamos un modelo para la obtención de las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras cuando no es posible observar franjas…”
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IDENTIFICACIÓN DE UNA NUEVA FASE EN LA ESTRUCTURA CRISTALINA DEL COMPUESTO CUATERNARIO Cu2ZnSnSe4 DURANTE LA ETAPA INCORPORACIÓN DEL ZnSe
Published in Revista EIA“…En este trabajo se presenta un estudio de las propiedades estructurales de películas delgadas del compuesto Cu2ZnSnSe4 variando tanto la masa (M X) como la…”
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