基于JTAG的高效调试系统设计与实现

TN407; 为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法,提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法.该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上,简化片内调试硬件模式设计,以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计,不仅实现了调试中断、指令/数据断点设置、单步执行及寄存器/存储器数据读写等基本调试功能,还支持现场保护与恢复、Trace Buffer、指令插入执行等高级调试功能.经实际芯片测试证明,该调试系统具有兼容JTAG协议、功能全面、灵活高效、结构简单、便于操作等特点....

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Bibliographic Details

Published in:	电子技术应用 Vol. 49; no. 4; pp. 39 - 43
Main Authors:	张梅娟, 辛昆鹏, 王丽娟, 邓佳伟
Format:	Journal Article
Language:	Chinese
Published:	中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏无锡214063 2023
Subjects:	调试系统 TAP控制器 IEEE1149.1 JTAG接口
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